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功率半导体器件分析及功率MOS管主要参数-KIA MOS管

信息来源:本站 日期:2021-01-26 

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功率半导体器件分析及功率MOS管主要参数-KIA MOS管


功率半导体器件

电力电子器件(Power Electronic Device),又称为功率半导体器件,用于电能变换和电能控制电路中的大功率(通常指电流为数十至数千安,电压为数百伏以上)电子器件。


可以分为半控型器件、全控型器件和不可控型器件,其中晶闸管为半控型器件,承受电压和电流容量在所有器件中最高;电力二极管为不可控器件,结构和原理简单,工作可靠;


还可以分为电压驱动型器件和电流驱动型器件,其中GTO、GTR为电流驱动型器件,IGBT、电力MOSFET为电压驱动型器件。


功率半导体器件是集成电路一个非常重要的组成部分,市场空间有400多亿美元,从大方面讲有200多亿美元是功率IC,还有100多亿是功率器件。


手机充电器,手机当中都会有功率器件。功率器件主要的部分,体量比较大的是IGBT。把IGBT、VDMOS做好,就是一个很好的硬件厂商。


IGBT模块是双子器件,它的特点是频率低一点,但是能量密度稍微大一点。所以像在新能源汽车,轨道交通应用得更广泛。


功率半导体器件优缺点

电力二极管:结构和原理简单,工作可靠。


晶闸管:承受电压和电流容量在所有器件中最高。


IGBT:开关速度高,开关损耗小,具有耐脉冲电流冲击的能力,通态压降较低,输入阻抗高,为电压驱动,驱动功率小;缺点:开关速度低于电力MOSFET,电压,电流容量不及GTO。


GTR:耐压高,电流大,开关特性好,通流能力强,饱和压降低;缺点:开关速度低,为电流驱动,所需驱动功率大,驱动电路复杂,存在二次击穿问题。


GTO:电压、电流容量大,适用于大功率场合,具有电导调制效应,其通流能力很强;缺点:电流关断增益很小,关断时门极负脉冲电流大,开关速度低,驱动功率大,驱动电路复杂,开关频率低。


电力MOSFET:开关速度快,输入阻抗高,热稳定性好,所需驱动功率小且驱动电路简单,工作频率高,不存在二次击穿问题;缺点:电流容量小,耐压低,一般只适用于功率不超过10kW的电力电子装置。


制约因素:耐压,电流容量,开关的速度。


功率MOS管主要参数


功率半导体器件,功率MOS管主要参数

功率半导体器件,功率MOS管主要参数

功率MOS管主要参数


功率半导体器件,功率MOS管主要参数


V(BR)DSS:漏-源击穿电压(破坏电压)


V(BR)DSS(有时候叫做VBDSS)是指在特定的温度和栅源短接情况下,流过漏极电流达到一个特定值时的漏源电压。这种情况下的漏源电压为雪崩击穿电压。


V(BR)DSS 是正温度系数,温度低时V(BR)DSS小于25℃时的漏源电压的最大额定值。在-50℃, V(BR)DSS大约是25℃时最大漏源额定电压的90%。


VGS(th),VGS(off):阈值电压


VGS(th) 是指加的栅源电压能使漏极开始有电流,或关断MOSFET时电流消失时的电压,测试的条件(漏极电流,漏源电压,结温)也是有规格的。


正常情况下,所有的MOS栅极器件的阈值电压都会有所不同。因此,VGS(th)的变化范围是规定好的。VGS(th)是负温度系数,当温度上升时,MOSFET将会在比较低的栅源电压下开启。


RDS(on):导通电阻

RDS(on) 是指在特定的漏电流(通常为ID电流的一半)、栅源电压和25℃的情况下测得的漏-源电阻。


IDSS:零栅压漏极电流

IDSS 是指在当栅源电压为零时,在特定的漏源电压下的漏源之间泄漏电流。既然泄漏电流随着温度的增加而增大,IDSS在室温和高温下都有规定。漏电流造成的功耗可以用IDSS乘以漏源之间的电压计算,通常这部分功耗可以忽略不计。


IGSS -栅源漏电流

IGSS是指在特定的栅源电压情况下流过栅极的漏电流。


功率半导体器件,功率MOS管主要参数


Ciss:输入电容

将漏源短接,用交流信号测得的栅极和源极之间的电容就是输入电容。Ciss是由栅漏电容Cgd和栅源电容Cgs并联而成,或者Ciss = Cgs +Cgd。


当输入电容充电致阈值电压时器件才能开启,放电致一定值时器件才可以关断。因此驱动电路和Ciss对器件的开启和关断延时有着直接的影响。


Coss:输出电容

将栅源短接,用交流信号测得的漏极和源极之间的电容就是输出电容。Coss是由漏源电容Cds和栅漏电容Cgd并联而成,或者Coss = Cds +Cgd对于软开关的应用,Coss非常重要,因为它可能引起电路的谐振。


Crss:反向传输电容

在源极接地的情况下,测得的漏极和栅极之间的电容为反向传输电容。


反向传输电容等同于栅漏电容。Cres =Cgd,反向传输电容也常叫做米勒电容,对于开关的上升和下降时间来说是其中一个重要的参数,他还影响这关断延时时间。


电容随着漏源电压的增加而减小,尤其是输出电容和反向传输电容。


Qgs,Qgd,和Qg:栅电荷栅电荷值反应存储在端子间电容上的电荷,既然开关的瞬间,电容上的电荷随电压的变化而变化,所以设计栅驱动电路时经常要考虑栅电荷的影响。


td(on):导通延时时间

导通延时时间是从当栅源电压上升到10%栅驱动电压时到漏电流升到规定电流的10%时所经历的时间。


td(off):关断延时时间

关断延时时间是从当栅源电压下降到90%栅驱动电压时到漏电流降至规定电流的90%时所经历的时间。这显示电流传输到负载之前所经历的延迟。


tr:上升时间

上升时间是漏极电流从10%上升到90%所经历的时间。


tf:下降时间

下降时间是漏极电流从90%下降到10%所经历的时间。




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