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KCD3406B TO-252 60V80A 高速|PD 快充低栅电荷场效应管现货

信息来源:本站 日期:2026-06-30 

KCD3406B TO-252 60V80A 高速 MOS 管|PD 快充低栅电荷场效应管现货

高频电源损耗高、满载温升超标、电路啸叫?16nC 超低栅电荷 + 7.8mΩ 低内阻,大功率快充稳定高效

KCD3406B

KCD3406B,KIA3406B,TO-252 功率 MOSFET,60V80A N 沟道 MOS 管,SGT 高速 MOS,低栅电荷 MOS 管

KIA3406B 60V 80A SGT N沟道MOSFET完整参数

一、KCD3406B产品订购信息

料号 封装 品牌 产品规格
KCY3406B DFN5*6 KIA KMOS N沟道高速MOS 60V 80A
KCD3406B TO-252 KIA KMOS N沟道高速MOS 60V 80A

二、KCD3406BDFN5*6 / TO-252 引脚对应定义

DFN5*6引脚 TO-252引脚 引脚功能
1,2,3 3 Source 源极(S)
4 1 Gate 栅极(G)
5,6,7,8 2 Drain 漏极(D)

三、KCD3406B产品核心特性 Features

1.先进SGT沟槽功率MOS工艺
2.VGS=10V Rds(on)典型7.8mΩ
3.超低总栅电荷Qg仅16nC,高速开关
4.环保无铅绿色器件版本可选
5.优异抑制CdV/dt干扰效应
6.出厂100%ΔVds电压变化全检
7.出厂100%UIS非钳位雪崩全项测试

四、KCD3406B绝对最大额定值(TA=25℃)

参数名称 符号 DFN5*6 TO-252 单位 测试条件
漏源击穿电压 VDS 60 60 V VGS=0V
栅源耐压 VGS ±20 ±20 V VDS=0V
连续漏极电流 ID 80 80 A TC=25℃
连续漏极电流 ID 50 50 A TC=100℃
脉冲峰值漏极电流 IDM 260 260 A 脉冲电流测试
总耗散功率 PD 78.9 83 W TC=25℃
单脉冲雪崩能量 EAS 100 100 mJ 电感雪崩冲击测试
结温/存储温度区间 TJ,TSTG -55~150 -55~150 工作与存放温度范围

五、KCD3406B热特性参数

参数名称 符号 DFN5*6最大值 TO-252最大值 单位
结到外壳热阻 RθJC 1.9 1.8 ℃/W

六、KCD3406B完整电气特性(TA=25℃)

参数名称 符号 Min Typ Max 单位 测试条件
漏源击穿电压 BVDS 60 - - V VGS=0V,ID=250uA
漏源关态漏电流 IDSS - - 1 uA VDS=60V,VGS=0V,25℃
栅源漏电流 IGSS -100 - +100 nA VGS=±20V,VDS=0V
栅极开启阈值电压 VGS(th) 1.0 1.7 2.5 V VGS=VDS,ID=250uA
导通内阻1 RDS(on) - 7.8 9.5 VGS=10V,ID=20A
导通内阻2 RDS(on) - 10 13 VGS=4.5V,ID=15A
栅极内电阻 Rg - 1.7 - Ω VDS=0V,VGS=0V,f=1MHz
输入电容 Ciss - 900 - pF VDS=30V,VGS=0V,f=1MHz
输出电容 Coss - 330 - pF
反向传输电容 Crss - 14 - pF
开通延迟时间 td(on) - 4 - ns VDS=30V,VGS=10V,Rg=2Ω,ID=20A
电压上升时间 tr - 3.5 - ns
关断延迟时间 td(off) - 14 - ns
电流下降时间 tf - 2.6 - ns
总栅极电荷 Qg - 16 - nC VDS=30V,VGS=10V,ID=20A
栅源电荷 Qgs - 1.1 - nC
栅漏米勒电荷 Qgd - 5.6 - nC
体二极管连续电流 ISD - - 80 A 内置并联体二极管
体二极管正向压降 VSD - - 1.2 V VGS=0V,ISD=20A,TJ=25℃
二极管反向恢复时间 trr - 22 - ns TJ=25℃,IF=20A,di/dt=100A/μs
反向恢复电荷 Qrr - 26 - nC
固有开通时间ton ton 可忽略,开通由线路电感LS+LD主导

七、KCD3406B电气参数测试备注 Notes

1) 测试板:1平方英寸FR4板材,2盎司铜箔表面贴装
2) Rds(on)脉冲测试:脉宽≤300us,占空比≤2%
3) UIS雪崩测试条件:VDD=36V,VGS=10V,L=0.5mH,IAS=20A
4) 芯片功耗上限由175℃最大结温限制
5) ISD理论等同ID/IDM,实际受整机总功耗约束

八、KCD3406B典型特性曲线图一览

图号 曲线功能说明
Fig1 输出特性ID-VDS,多档VGS电压曲线
Fig2 转移特性ID-VGS,25℃脉冲测试曲线
Fig3 导通内阻Rds(on)随漏极电流ID变化曲线
Fig4 最大连续ID随外壳温度TC衰减曲线
Fig5 栅极充放电电荷 VGS-Qg 特性曲线
Fig6 Ciss/Coss/Crss极间电容随VDS变化曲线
Fig7 归一化BVDS击穿电压与结温TJ关系
Fig8 归一化Rds(on)导通内阻随结温TJ变化
Fig9 SOA安全工作区,直流/多脉冲负载边界
Fig10 内置体二极管正向伏安特性曲线
Fig11 瞬态热阻抗ZθJC与脉冲时长对应曲线

九、KCD3406B测试电路与波形图说明

十、KCD3406B TO-252 同规格平替替代型号(竖排窄条展示)

KCD3406B,KIA3406B,TO-252 功率 MOSFET,60V80A N 沟道 MOS 管,SGT 高速 MOS,低栅电荷 MOS 管

KCD3406B

图号 电路用途说明
Fig12 栅极总电荷Qg测试电路与充放电波形
Fig13 电阻负载开关测试,测td/tr/tf开关时序
Fig14 无钳位电感UIS雪崩测试电路,EAS能量计算
替代品牌 平替替代型号(60V/80A TO-252 N沟高速MOS)
AOS万代 AOD6080
AOD4860
ON安森美 NTD80N06
NTD4864N
UTC友顺 UT80N06L
UT6080
富鼎APEC AP6080GH
AP80N06
新洁能NCE NCE6080K
NCE8006G
捷捷微JJW JJM6080
JJW80N06
微碧VBSEMI VB6080
VB80N06
长电CJ CJQ6080
CJQ80N06
英飞凌IR IRLR3206
IRF80N06
意法ST STD80N06
STB6080

十一、KCD3406B 官网全套产品介绍(分模块)

文案分类 宣传内容(单行≤35字符)
产品主标题 KCD3406B TO-252 60V80A SGT高速N沟道功率MOS管
核心卖点短句 1.先进SGT工艺,Qg仅16nC超高速开关
2.VGS=10V Rds(on)典型7.8mΩ低导通损耗
3.强抗CdV/dt干扰,高频电源无啸叫干扰
4.100%UIS&ΔVds双重全检,参数一致性高
5.80A大电流承载,适配大功率快充设备
6.TO252贴片封装,兼容自动化SMT产线
参数优势文案 1.开关延时极小,td(on)仅4ns,高频损耗更低
2.TO252热阻1.8℃/W,大功率散热表现优异
3.峰值脉冲电流260A,瞬时冲击负载不损坏
4.体二极管80A通流,省去外置续流二极管
5.反向恢复trr=22ns,同步整流转换效率更高
适用应用场景 1.大功率手机/笔记本PD快充适配器
2.大功率车载升降压、车载储能电源模块
3.工业大功率DC-DC、电动工具控制器
4.大功率LED驱动、便携式储能逆变器
5.大功率锂电池保护板、UPS开关电源
客户痛点解决文案 1.进口MOS交期长溢价高?原厂现货直接平替降本
2.高频电源发热大、效率低?超低栅电荷减损耗
3.开关干扰啸叫严重?优异抑制dV/dt效应
4.批量器件参数偏差大?出厂全检稳定性强
5.快充满载温升超标?低内阻大幅降低发热
SEO引流标题(产品详情页) 1.KCD3406B TO252 60V80A高速SGT MOSFET现货
2.替代AOD6080低栅电荷MOS PD快充专用场效应管
3.KIA原厂KCD3406B 80A60V贴片功率MOS供应商
列表页短简介 KCD3406B TO-252 60V80A高速SGT MOS,超低栅电荷,完美平替进口料,大功率快充首选器件。

十二、KCD3406B 对比竞品核心优势表

对比维度 KCD3406B核心优势
栅极电荷 Qg仅16nC,开关速度远超同规格普通沟槽MOS
开关延时 开通延迟仅4ns,高频电路转换效率更高
导通内阻 典型7.8mΩ,满载温升低于多数国产竞品
出厂检测 100%UIS雪崩+ΔVds双重全检,不良率更低
供货成本 KIA自有晶圆产线,常备现货,替代进口降低采购成本

联系方式:邹先生

座机:0755-83888366-8022

手机:18123972950(微信同号

QQ:2880195519(技术群,也可以加这个qq)

联系地址:深圳市龙华区英泰科汇广场2栋1902

KCD3406B

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