深圳市可易亚半导体科技有限公司

国家高新企业

cn en

新闻中心

元器件为什么会出现失效模式,这里有三种原因要告诉大家

信息来源:本站 日期:2017-09-08 

分享到:
失效模式

表14.2列出三种失效形式:
①开路失效.
②漏电流/短路失效.

③特性劣化失效在器件制造中产生缘由.
实践上要用电学实验的方法将器件的失效形式别离开是艰难的.
即便①和②可以别离,①与③,②与③通常是同时发生的.


外来因素引起的失效

器件置于超越额定值*规定的运用环境时,会招致劣化、损伤。外来要素能够罗列如下:
(1)组装到基板上时:用户的检查环境、保管环境、静电(ESD:electrostatic dis-charge)、基板装置时器件的固定、装置温度、清洁剂成分等。
(2)装置完成后所加的电压?电流:ESD,插件板实验,电源动摇,噪声,信号的反射?耦合,电容成分的充放电,左近电感成分惹起的电动势等。
外来因素惹起CMOS器件的失效,主要是由过电压或过电流(浪涌电压?电流)惹起的。典型的现象是ESD(Electro Static Discharge,静电放电))和Latch-up(闩锁)。


联系方式:邹先生

联系电话:0755-83888366-8022

手机:18123972950

QQ:2880195519

联系地址:深圳市福田区车公庙天安数码城天吉大厦CD座5C1


关注KIA半导体工程专辑请搜微信号:“KIA半导体”或点击本文下方图片扫一扫进入官方微信“关注”

长按二维码识别关注